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光学测厚仪白光干涉测量薄膜厚度仪器3D表面轮廓测量仪

光学测厚仪白光干涉测量薄膜厚度仪器3D表面轮廓测量仪

产品价格：￥960000.00（人民币）

规格：SuperViewW1

发货地：广东深圳

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最小起订量：1

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深圳市中图仪器股份有限公司

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商品详情

产品参数
类型	白光干涉仪
放大倍率	0.5×(0.75×，1×)
是否进口	否
加工定制	否
电源	100-240VAC
50/60Hz
重量	150KG
测量行程	140×100㎜
测量范围	320×200㎜
适用范围	三维微观表面形貌测量
外形尺寸	900×700×604㎜
型号	SuperViewW1
影像系统	1024×1024
负载	10kg
形貌重复性	0.1nm
粗糙度RMS重复性	0.005nm
台阶测量准确度	0.3％
台阶测量重复性	0.08％ 1σ
可测样品反射率	0.05％~100％
品牌	中图仪器 CHOTEST

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