光学轮廓仪自动化测量半导体晶圆粗糙度中图仪器SuperViewW1
光学轮廓仪自动化测量半导体晶圆粗糙度中图仪器SuperViewW1
产品价格:¥96.00(人民币)
  • 规格:完善
  • 发货地:广东深圳
  • 品牌:
  • 最小起订量:1
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    会员级别:试用会员
    认证类型:企业认证
    企业证件:通过认证

    商铺名称:深圳市中图仪器股份有限公司

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    商品详情
      产品参数
      品牌中图仪器 CHOTEST
      精度0.1nm
      电源100-240VAC
      50/60Hz
      4A
      重量150kg
      分辨率320×200×100
      加工定制
      测量范围140×100㎜
      操作方式程序控制
      放大倍率10×,(2.5×,5×, 20×,50×,100×)
      适用范围三维形貌测量
      外形尺寸900×700×604㎜
      是否进口
      功率300W
      软件监控噪声3σ≤4nm*4
      可售卖地北京;天津;河北;山西;内蒙古;辽宁;吉林;黑龙江;上海;江苏;浙江;安徽;福建;江西;山东;河南;湖北;湖南;广东;广西;海南;重庆;四川;贵州;云南;西藏;陕西;甘肃;青海;宁夏;新疆
      类型白光干涉仪








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