简要说明：NoiseKen牌的出售日本NoiseKen ESS-6008 静电发生器产品：估价：电议，规格：ESS-6008，产品系列编号：ESS-6008

　　出售日本NoiseKen ESS-6008 静电发生器
原装正品！出售日本NoiseKen ESS-6008 静电发生器（静电枪）

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ESS-6008半导体器件静电放电模拟试验器,静电是沿着物体移动而產生,而物体包含正、负电的电配置,当其配置失序,而倾向为一个极性時,静电即產生,这个现象就称为”带电”,“带电”主要是因为接觸,磨擦及剥落而產生;同时,静电还有另一种现象称为”感应带电”。此外,尽管有些時候,当脱下毛线衣及在干燥状态下接触车辆门把时可能会有火花产生而也称为静电,正确地說,它应该称为”静电放電(ESD)”。

 

     ESS-6008半导体器件静电放电模拟试验器国内又叫做日本NOISEKEN ESS-6002/ESS-6008 LED静电分析仪，即可以测试人体和机械两种模式的静电测试仪。而在当下LED行业发展迅猛，很多企业又将之称做LED静电分析仪。日本NOISEKEN的ESS-6002/ESS-6008半导体器件静电放电模拟发生器已经生产10多年，最高机械模式可以达到8KV,并已经得到各行业的广泛认可。相比国内的一些刚生产一年左右的产品来说，稳定性、精密性、认可度优势已十分明显。作为专业从事EMC设备研发与生产，和相关标准的制定者，NOISEKEN的ESS-6002/ESS-6008以它的卓越功能被广泛认可。 

 

  在我们日常生活中,仅仅只是穿鞋及走在地毯上,很容易就可产生30kV静电。“NoiseKen”ESD模拟试验器(ESS-S3011/ESS-B3011/ESS-L1611)可再现及模拟来自带电人体的ESD,用意是要测试电子设备在ESD影响下是否能正确地操作或发生故障?而且,模拟试验器符合由IEC国际电工委员会标准化的IEC61000-4-2标准。而用于测试电子组件如半导体的ESD模拟试验器,有ESS-6008(请参考目录上之合格标准)。发生故障的过程是,当ESD发生到一电子设备時,表面电流在体表流動,而电位上升,结果,GND的电位變動,而接着产生电/磁雜訊,噪声流到内部与电路耦合,因此,造成故障(请参下圖)。 由于这个现象可轻易地频繁產生,因此,对电子设备进行测试乃是必须的。

 

特 点

 

考查实际上给电子设备安装半导体元件时，半导体元件所受到的抗静电破坏能力的静电试验器。半导体元件因受静电可能发生内部配线，绝缘膜的熔断，破坏等而导致产品特性裂化，误动作的现象。对于此静电破坏试验，只需利用1 台弊司小型ESS-600X 更换探头就可简单实行人体带电型，机器带电型的试验。还有，可用选件中的精密型支架可对超细密间距元件做半自动的试验。最适合用于进行LED,LCD, 光元件等电子部品的静电破坏耐性试验。精密型支架

 

·      可做最高输出电压±8KV 试验（ESS-6008）

 

·      可做出留有余量的试验

 

·      可对各种间距的受测元件进行静电施加试验

 

·      可搭配精密测台，以半自动（Y 轴）的脚位移动而正确的对待

 

·      测物施加静电

 

·      可做最低试验电压±10V 的试验（ESS-6002）

 

·      对于低电压驱动元件的评价可从10V 开始以1V 的步长予施加

 

·      可对应规格 

 

对应标准

 

人体模型试验 (HBM)

机械模型试验 (MM)

AEC-Q100-002-Rev.D Jul.2003

AEC-Q100-003-REV-E  Jul.2003

ESDA ANSI/EOS/ESD-STM5.1-2001

ESDA ANSI/ESD STM5.2-1999

IEC 61340-3-1Ed.1.0 2002

IEC 61340-3-2 Ed.1.0-2002

IEC 60749-26 Ed.1.0 2003

IEC 60749-27 Ed.1.0 2003

JEDEC JESD22-A114E Jan 2007

JEDEC JESD22-A115A Oct.1997

JEITA EIAJ ED-4701/300 Aug.2001 Test Method304

JEITA EIAJ ED-4701/300 Aug.2001

MIL-STD-883G Method 3015.7 Mar.1989

 

 

规格

 

半导体器件静电放电模拟试验器 (ESS-6002/ESS-6008)

 

项目

功能/性能

ESS-6002

ESS-6008

输出电压

10～2000V±10％（ESS-6002） 1V步进

100～8000V±10％（ESS-6008） 10V步进

输出极性

正或负

重复周期

0.3～99s±10％到10s为止0.1s步进 10s以后1s步进

放电次数 

1～99次/连续

Automatic output voltage ramping

Available

尺寸

（W）340×(H)×199×（D）300mm（不含突起部分）

尺寸

约6kg

 

简易型探针台 <18-00075A>

 

项目

功能/性能

尺寸/重量（探针台主机）

(W)200×(H)330×(D)290mm/约1.5kg

尺寸/重量（简易放电板） 

(W)100×(H)27×(D)180mm（不含突起部）/约200g

钳口尺寸

110mm

其他

POM造V型部件1个 标准附件

 

半自动精密型探针台 <18-00076A>

 

由于半自动精密型探针台的最小分辨率为0.01mm，所以可以简单地对毫米间距和英寸间距等极小间距的半导体进行试验

 

项目

功能/性能

尺寸/重量

(W)250×(H)400×(D)300mm/约7kg

可对应IC

最大尺寸：40mm角 最小导线间距：0.4mm

X轴

手动 移动量：20mm ×燕尾槽、进给螺杆

Y轴

电动（zui大速度：13mm/s）移动量：40mm（Y分辨率：0.01mm）*步进马达&滚珠螺杆

θ轴

手动 移动量：360°

Z axis

手动 移动量：20mm *内置弹簧下压式

回原点

手动