详细介绍: 电话:0510-88300117 手机:18021198037 QQ:2434319751 联系人:安小姐
报告专业权威,国际认可
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主要应用于各种固体材料体相杂质的直接测量,包括镀层,涂层和薄膜,也就是用于纯度分析和杂质分析
检测面积:40-200平方毫米(消耗50微米厚度的样品)
检测极限:ppb 级别
检测范围:73种元素
主要适合以下产品:
高纯材料
合金
碳及石墨材料
半导体材料 (硅)
氧化物,碳化物,及陶瓷材料
粉末状样品
损坏面积:厚度50微米,面积
块状样品:大于20mm
尺寸不足的样品(粉末颗粒等)增加制样费1000元
(因为需要用到7个9的铟)
金属样品 rmb 4500
半导体样品(si ,GaAs) rmb 5000
非导体(氧化物,碳化物,石墨,陶瓷材料) rmb 5500
如指定元素小于等于25个,费用分别是以上费用的0.8倍。
AES(auger)
针对导体和半导体
表面颗粒的分析
小区域污染物的发现和判定
材料薄层纵向分布分析
原理雷同eds ,只是能量稍小。
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