一、表面形貌仪的介绍：
表面形貌仪采用的白光共聚焦技术，Z高扫描速度可达1m/s，可实现对材料表面从纳米到毫米量级的粗糙度测试，具有测量精度高，速度快，重复性好的优点，测量不受样品反射率和光的影响，测量简单，可用于测量大尺寸样品，如透明、金属材料，半透明、高漫反射，低反射率、抛光、粗糙材料等，主要应用于半导体材料、太阳能电池、医疗工程、制药、生物材料，光学元件、陶瓷和先进材料的研发。
二、测量原理：
低相干白光同时照射样品和参考平面，被样品和参考平面反射的两束白光发生干涉后由阵列式CMOS探测器接收，由于探测器直接与信号处理芯片（Smart Pixel技术）连接，所以阵列上每个像素点的信号都在芯片中完成锁相放大，背景信号补偿和结果计算输出，成像于计算机就实现了样品表面的快速三维形貌测量。
三、在工业领域的应用：
食品安全在线检测。