天津瑞利光电科技有限公司优势经销美国LUMETRICS波前测量仪ClearWave Plus

产品型号：ClearWave Plus

关键字：LUMETRICS波前测量仪ClearWave Plus

关键字描述：这为隐形眼镜制造商提供了中心厚度（CT），矢状高度（SAG），直径，曲率半径以及所有当前需要三个独立系统才能获得的所有波阵面测量值。

产品介绍：

ClearWave Plus是隐形眼镜制造商的计量解决方案，可同时测量以下各项：

球体，圆柱体，轴

Zernike WaveFront像差

直径，CT，凹陷

标签功率

所有这些操作都只需一个按钮即可实现。

ClearWave Plus将改良的ClearWave与行业标准OptiGauge厚度测量系统结合使用。这为隐形眼镜制造商提供了中心厚度（CT），矢状高度（SAG），直径，曲率半径以及所有当前需要三个独立系统才能获得的所有波阵面测量值。由于ClearWave和OptiGauge系统已在全球的隐形眼镜制造商的研发实验室和生产设施中实施，因此Lumetrics是眼科相关测量解决方案的提供商。 ClearWave Plus在单一的操作员友好型解决方案中提供了这些产品中更好的产品，从而减少了对隐形眼镜的处理。ClearWave Plus设计用于快速，准确地检查隐形眼镜。

参数：

高分辨率ClearWave波前传感器（标准）：

101x101小透镜阵列网格

视野：10.4 x 10.4毫米

空间分辨率：0.104毫米

球面范围：-74至+37 D（典型湿镜）

干球范围为+8至-16屈光度

圆柱体范围：典型湿镜±27 D

干圆柱范围为6（+/- 3）屈光度

球面像差精度0.004（干）

球差重复精度0.002 um（干）

棱镜测量：

棱镜测量0至3棱镜屈光度，适用于干镜

棱镜精度0.1棱镜屈光度

棱镜重复性0.05棱镜屈光度

尺寸测量：

直径max.20mm，±25μm

厚度和CT

-方法论-低相干干涉法

-精度0.1μm

-重复性0.1μm

-测量波长1310nm

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